数据更新时间
2026-05-12
按“硅”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：硼、铝、镓、磷、砷、锑
检测对象：多晶硅
GB/T35306-2023
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：碳、氧
检测对象：多晶硅
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：多晶硅
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：多晶硅
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
检测项目：金属杂质
检测对象：多晶硅
光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
检测项目：表面金属杂质
检测对象：多晶硅
工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：铁、铝、钙
检测对象：工业硅
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：多晶硅