数据更新时间
2026-05-12
按“声”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：芯片粘接的超声检测
检测对象：微电子器件
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：半导体分立器件
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子及电气元件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目
检测项目：声学扫描显微镜
检测对象：电子及电气元件
电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD- 1580B 要求
电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD- 1580B 要求
检测项目：声学扫描显微镜检查
检测对象：电子及电气元件