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2026-05-12
按“GB/T 31225-2014”筛选,展示 1 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法
检测项目:薄层厚度
检测对象:硅表面上二氧化硅薄层