数据更新时间
2026-05-12
按“Cl”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出低电平时电源电流I<Sub>CCL</Sub>、功能测试、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出高电平阈值电压V<Sub>OHT</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出低电平阈值电压V<Sub>OLT</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：ECL电路