检测对象：半导体集成电路TTL电路
功能测试输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入电流I<Sub>I</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>正向阈值电压下的输入电流I<Sub>T+</Sub>负向阈值电压下的输入电流I<Sub>T-</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>输出高电平时电源电流I<Sub>CCH</Sub>输出低电平时电源电流I<Sub>CCL</Sub>
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入出低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：ECL电路
功能测试输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出高电平阈值电压V<Sub>OHT</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出低电平阈值电压V<Sub>OLT</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>电源电流I<Sub>EE</Sub>