广东省 · 珠海市
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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 42 条能力;该机构共 42 条能力记录。
按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
电子设备用固定电容器 第1部分:总规范
检测项目:外观检查和尺寸检查、低温贮存、耐久性、高温贮存、恒定湿热、温度快速变化、高、低温特性、绝缘电阻 等 13 项,点击展开全部
检测对象:铝电解电容器
电子设备用固定电容器 第4部分:分规范 固体和非固体电解质铝电容器
检测项目:阻抗、低温贮存、耐久性、高温贮存、恒定湿热、外观检查和尺寸检查、温度快速变化、高、低温特性 等 13 项,点击展开全部
检测对象:铝电解电容器
交流电动机电容器 第1部分:总则 性能、试验和额定值 安全要求 安装和运行导则
检测项目:外观检查、尺寸检查、电容量、损耗角正切、耐久性试验、湿热试验、破坏试验、引出端子间的电压试验 等 11 项,点击展开全部
检测对象:交流电动机电容器
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录201B
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录201B
检测项目:高温保存试验
检测对象:功率半导体
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录202A
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录202A
检测项目:低温保存
检测对象:功率半导体
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100B:2023 附录103B
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100B:2023 附录103B
检测项目:高温高湿保存试验
检测对象:功率半导体
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100B:2023 附录105B
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 100B:2023 附录105B
检测项目:温度循环试验
检测对象:功率半导体
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录203A
半导体器件的环境和耐久性测试方法 JEITA ED-4701 200B:2023 附录203A
检测项目:温湿度循环试验
检测对象:功率半导体