天津市
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数据更新时间
2026-05-12
按“DS”筛选,展示 3 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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GB-T4586-1994
半导体器件分立器件第8部分场效应晶体管 第Ⅳ章测试方法
检测项目:静态漏源导通电阻r<Sub>DSon</Sub>、漏极截止电流I<Sub>DSS</Sub>
检测对象:场效应管
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目:漏源击穿电压V<Sub>BRDSS</Sub>
检测对象:场效应管