数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
无源(被动)器件的应力测试标准 AEC-Q200 REV D(2010) 表5的15
电子与通信设备用变压器与电感器 测量方法及试验程序 GB/T 8554-1998 4.4.3
板弯折/端子粘结强度测试 AEC-Q200-005 - 2010 3.0
端子强度(SMD)/切变应力测试 AEC-Q200-006 - 2010 3.0
电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008 6
元件引线、端子、焊片、接线柱及导线可焊性试验 J-STD-002E-2017 4
物理尺寸 JESD22-B100B-2016 3
手持电子产品组件的板级跌落试验 JESD22-B111A-2016 5
深圳市麦捷微电子科技股份有限公司检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 AEC-Q200 REV D(2010)、GB/T 8554-1998、AEC-Q200-005 - 2010、AEC-Q200-006 - 2010、GB/T 2423.1-2008、J-STD-002E-2017 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子电气元器件（电感、EMI静噪元件、射频元件、模块） 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。