数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
集成电路的应力测试驱动的鉴定 JESD47M :2025 5.5 表 5-1
非易失性存储器编程/擦除耐久性，数据保持和工作寿命试验 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.1
电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）编程/擦除耐久性数据保持试验 JESD22-A117E:2018 4.1
温度，偏置和使用寿命 JESD22-A108G:2022 4
静电放电人体模型测试 AEC-Q100-002-REV-E: 2013 3.0
集成电路锁定测试 AEC-Q100-004-REV-D-2012 1.1、2、4、5、表 A
早期寿命失效率 AEC-Q100-008-REV-A:2003 3.2
带电器件模型(CDM)-静电放电(ESD)测试 AEC-Q100-011-REV-D-2019 2
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代表标准包括 JESD47M :2025、AEC-Q100-005-REV-D1:2012、JESD22-A117E:2018、JESD22-A108G:2022、AEC-Q100-002-REV-E-2013、AEC-Q100-004-REV-D-2012 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
