数据更新时间
2026-05-12
按“电路”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD47M :2025
集成电路的应力测试驱动的鉴定 5.5 表 5-
检测项目：早期失效试验、高温运行寿命、非易失性存储器高温循环擦写耐力测试、非易失性存储器高温循环擦写后的高温数据保持能力测试、低温运行寿命、非易失性存储器未经循环擦写的高温数据保持能力测试、非易失性存储器常温循环擦写耐力测试、非易失性存储器常温循环擦写后的数据保持能力测试和读操作干扰测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
JESD78F.02-2023
集成电路锁定测试 3.3、
检测项目：锁定测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件
AEC-Q100-004-REV-D-2012
集成电路锁定测试 1.1、2、4、5、表 A
检测项目：锁定测试
检测对象：存储器、微控制器、传感器及电源管理等器件