数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路第2部分：数字集成电路》 第Ⅳ篇第3节
检测项目：延迟时间
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路TTL电路
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：脉冲上升时间、脉冲下降时间、下降传输延迟时间、上升传输延迟时间
检测对象：光电耦合器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器