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2026-05-12
按“电容”筛选，展示 70 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0201 圆片瓷介电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0201 圆片瓷介电容器
检测项目：外部目检、制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0201 圆片瓷介电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0201 圆片瓷介电容器
检测项目：外部目检、制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
检测项目：外部目检、制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0207 固体电解质钽电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0207 固体电解质钽电容器
检测项目：外部目检、X射线检查、制样镜检、内部目检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0207 固体电解质钽电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0207 固体电解质钽电容器
检测项目：外部目检、X射线检查、制样镜检、内部目检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0204 金属化塑料膜介质电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0204 金属化塑料膜介质电容器
检测项目：外部目检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0204 金属化塑料膜介质电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0204 金属化塑料膜介质电容器
检测项目：外部目检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
检测项目：制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0203 云母电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0203 云母电容器
检测项目：制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0203 云母电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0203 云母电容器
检测项目：制样镜检、内部目检、引出端强度
检测对象：电子元器件
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
检测项目：漏电流、损耗角正切
检测对象：电容器
《有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范》 GJB 2283A-2014
《有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范》 GJB 2283A-2014
检测项目：等效串联电阻（ESR）、浪涌电流
检测对象：电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0208 片式固体电解质钽电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0208 片式固体电解质钽电容器
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0208 片式固体电解质钽电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0208 片式固体电解质钽电容器
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0210 瓷介微调可变电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目0210 瓷介微调可变电容器
检测项目：外部目检、内部目检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0210 瓷介微调可变电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目0210 瓷介微调可变电容器
检测项目：外部目检、内部目检
检测对象：电子元器件
《片式固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB2283A-2014
《片式固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB2283A-2014
检测项目：电容器电压老化试验
检测对象：电子元器件
《高可靠瓷介固定电容器通用规范》 GJB4157A-2011
《高可靠瓷介固定电容器通用规范》 GJB4157A-2011
检测项目：电容器电压处理试验
检测对象：电子元器件
《有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范》 GJB192B-2011
《有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范》 GJB192B-2011
检测项目：电容器电压处理试验
检测对象：电子元器件
《有失效率等级的非固体电解质钽电容器通用规范》 GJB733B-2011
《有失效率等级的非固体电解质钽电容器通用规范》 GJB733B-2011
检测项目：电容器电压老炼试验
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2021 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2021 工作项目0202 多层瓷介（独石）电容器
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目 0203云母电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 工作项目 0203云母电容器
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目 0203云母电容器
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027B-2021 工作项目 0203云母电容器
检测项目：外部目检
检测对象：电子元器件
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目：电容量、品质因数（Q）、介质耐电压、绝缘电阻、电容器老炼试验
检测对象：电容器
检测对象：电子元器件
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 第IV章
检测项目：小信号短路输入电容、小信号短路输出电容、小信号短路反馈电容
检测对象：场效应晶体管
《半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）》
检测项目：输入电容、输出电容、反向传输电容
检测对象：绝缘栅双极性晶体管
《半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 第IV章第2节
检测项目：总电容
检测对象：电压调整二极管
检测对象：开关二极管
《半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件》 第Ⅱ篇第1节
检测项目：总电容
检测对象：变容二极管
《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管》
检测项目：电容
检测对象：双极型晶体管
《石英晶体元件通用规范》 GJB 2138A-2015
《石英晶体元件通用规范》 GJB 2138A-2015
检测项目：并电容
检测对象：晶体谐振器