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2026-05-12
按“老炼”筛选,展示 31 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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《电子产品老炼试验方法》 QJ 908A-
《电子产品老炼试验方法》 QJ 908A-
检测项目:老炼试验
检测对象:电工电子产品、专用设备
《电子产品老炼试验方法》 QJ 908B-
《电子产品老炼试验方法》 QJ 908B-
检测项目:老炼试验
检测对象:电工电子产品、专用设备
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法
检测项目:半导体集成电路老炼试验、混合集成电路DC/DC变换器老炼试验、光电耦合器老炼
检测对象:电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 方法
检测项目:半导体集成电路老炼试验、混合集成电路DC/DC变换器老炼试验、光电耦合器老炼
检测对象:电子元器件
《电子及电气元器件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元器件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目:电阻器老炼试验、电感器老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1038试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1038试验条件B
检测项目:二极管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1038试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1038试验条件B
检测项目:二极管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1038试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1038试验条件A
检测项目:二极管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1038试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1038试验条件A
检测项目:二极管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042试验条件A
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042试验条件A
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042试验条件B
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042试验条件B
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042方试验条件C
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1042方试验条件C
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042方试验条件C
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1042方试验条件C
检测项目:场效应晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1039试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1039试验条件B
检测项目:晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1039试验条件B
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1039试验条件B
检测项目:晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1039试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1039试验条件A
检测项目:晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1039试验条件A
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法1039试验条件A
检测项目:晶体管老炼试验
检测对象:电子元器件
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法
检测项目:电容器老炼试验
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
检测项目:光电耦合器老炼
检测对象:电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
检测项目:光电耦合器老炼
检测对象:电子元器件
《晶体振荡器通用规范》 GJB1648A-2011
《晶体振荡器通用规范》 GJB1648A-2011
检测项目:石英晶体振荡器老炼
检测对象:电子元器件
《有失效率等级的非固体电解质钽电容器通用规范》 GJB733B-2011
《有失效率等级的非固体电解质钽电容器通用规范》 GJB733B-2011
检测项目:电容器电压老炼试验
检测对象:电子元器件