数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 23 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 6 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《无偏置高加速应力试验(UHST)》 JESD22-A118B.01:
《无偏置高加速应力试验(UHST)》 JESD22-A118B.01:
检测项目：无偏置高加速应力试验（UHST）
检测对象：电子元器件
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电压(输入二极管)<i>V</i><sub>F</sub>、反向电流(二极管)<i>I</i><sub>R</sub>、反向击穿电压(二极管)<i>V</i><sub>BR</sub>、集电极-发射极击穿电压<i>V</i>(<sub>BR</sub>)<sub>CEO</sub>、集电极-发射极饱和电压<i>V</i><sub>CE</sub>(<sub>sat</sub>)、输出截止电流<i>I</i><sub>CEO</sub>、输出高电平电压<i>V</i><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<i>V</i><Sub>OL</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：光电耦合器
《微波电路放大器测试方法》 GJB 8125-2013
《微波电路放大器测试方法》 GJB 8125-2013
检测项目：功率增益<i>G</i><sub>p</sub>、输入回波损耗<i>S</i><sub>11</sub>、输入电压驻波比<i>VSWR</i><sub>i</sub>、输出回波损耗<i>S</i><sub>22</sub>、输出电压驻波比<i>VSWR</i><sub>o</sub>、反向隔离度<i>S</i><sub>12</sub>、输出功率<i>P</i><sub>o</sub>
检测对象：微波射频元器件
《微波元器件性能测试方法》 GJB 2650-96 方法
《微波元器件性能测试方法》 GJB 2650-96 方法
检测项目：差分插损<i>SDD</i><sub>21</sub>/<i>SDD</i><sub>12</sub>、差分回损<i>SDD</i><sub>11</sub>/<i>SDD</i><sub>22</sub>
检测对象：微波射频元器件
《集成电路闩锁试验》 AEC-Q100-004D:
《集成电路闩锁试验》 AEC-Q100-004D:
检测项目：闩锁（LU）
检测对象：电子元器件
《其它试验方法》 AEC-Q101-004:1996 Section
《其它试验方法》 AEC-Q101-004:1996 Section
检测项目：非钳位感应开关（UIS）
检测对象：电子元器件