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2026-05-12
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SJ/T 11706-2018
半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法
检测项目：输入输出电容（Cin/Cout）
检测对象：FPGA动态参数
半导体器件 集成电路 第2部分 数字集成电路 第IV篇 第3节