当前查看：清华大学微电子学研究所未来芯片技术高精尖创新中心测试实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 36477-2018”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流、输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：集成电路