数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
《半导体集成电路 第2部分:数字集成电路》 GB/T 17574-1998 /第IV篇、第2节、1
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》 GB/T 35006-2018 6.2
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.1.2
《半导体集成电路 电压调整器测试方法》 GB/T 4377-2018 4.1
《半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管》 GB/T 4587-2023 6.2.6
《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 /第IV篇、第2节、10
《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法》 GB/T 36474-2018 5.1
《半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管》 GB/T 4586-1994 第IV章、10
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代表标准包括 GB/T 17574-1998、GB/T 35006-2018、GB/T 36477-2018、GB/T 4377-2018、GB/T 4587-2023、GB/T 17940-2000 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、接口电路、SRAM型现场可编程门阵列、模数转换器、动态随机存储器、数模转换器、快闪存储器、电源管理芯片 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。