数据更新时间
2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 22 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、电源电流和漏电流、输入高电平电压和输入低电平电压、输出高电平电压和输出低电平电压、传输时间、建立时间和保持时间、延迟时间、存储单元0变1功能 等 10 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法》
检测项目：静态电源电流、输入低电平、输入高电平、输出低电平、输出高电平、功能验证、写数据参数
检测对象：动态随机存储器
《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 /第IV篇、第3节、
检测项目：片选存取时间、读存取时间、写恢复时间、最少写脉冲的持续时间（脉宽）、功能检验
检测对象：动态随机存储器