数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》
检测项目：输出由高电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间
检测对象：接口电路
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》
检测项目：延迟时间
检测对象：快闪存储器
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
检测项目：输入输出延迟时间
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列