数据更新时间
2026-05-12
按“扫频”筛选，展示 5 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 /方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 /方法
检测项目：扫频振动
检测对象：电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 /方法
检测项目：扫频振动
检测对象：电子元器件
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 /方法
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548C-2021 /方法
检测项目：扫频振动
检测对象：电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 /方法2056、
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 /方法2056、
检测项目：扫频振动
检测对象：电子元器件
《变频振动》 JESD22-B103B.01-2016 /条件1、
《变频振动》 JESD22-B103B.01-2016 /条件1、
检测项目：扫频振动
检测对象：电子元器件