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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 45 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
《半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法》 SJ/T 11706-2018
检测项目：输入低电平漏电流、输入高电平漏电流、带上拉电阻的引出端输入电流、带下拉电阻的引出端输入电流、静态接口电源电流、静态内核电源电流
检测对象：SRAM型现场可编程门阵列
《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV篇、第2节、
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、输出高阻态电流、动态条件下下的总电源电流
检测对象：微控制器
检测对象：复杂可编程逻辑器件
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、电源电流
检测对象：接口电路
《半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管》
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极击截止电流、正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管
《固态继电器通用规范》 GJB 1515B-2017
《固态继电器通用规范》 GJB 1515B-2017
检测项目：偏置电流、控制电流、状态输出漏电流
检测对象：固态继电器
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 /第IV篇、第2节、
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、静态电源电流
检测对象：放大器
《半导体集成电路 电压调整器测试方法》
检测项目：电流调整率、输出电流限制、耗散电流
检测对象：电源管理芯片
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、电源电流和漏电流
检测对象：快闪存储器
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 第IV章、
检测项目：栅源截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流
检测对象：场效应晶体管
《集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
《集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018
检测项目：模拟输入电流
检测对象：模数转换器
《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3 SDRAM）测试方法》
检测项目：静态电源电流
检测对象：动态随机存储器
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
《有失效等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 733B-2011
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《非固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 1312A-2001
《非固体电解质钽固定电容器总规范》 GJB 1312A-2001
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2021
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2021
检测项目：漏电流
检测对象：钽电容
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法
检测项目：反向电流
检测对象：整流二极管
检测对象：调整二极管
检测对象：开关二极管
《半导体 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》 第IV章、第2节、
检测项目：反向电流
检测对象：调整二极管
检测对象：开关二极管