数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 19 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV篇、第2节、
检测项目：输入高电平电流和输入低电平电流、输出高电平电压和输出低电平电压、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、时序电路转换频率、片选存取时间、读存取时间、写恢复时间 等 16 项，点击展开全部
检测对象：微控制器
检测对象：动态随机存储器
检测对象：复杂可编程逻辑器件