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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压VT、阈值电流IT
检测对象：时基电路
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压
检测对象：场效应晶体管
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：MOS场效应晶体管阈值电压
检测对象：场效应晶体管
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法
检测项目：MOS场效应晶体管阈值电压
检测对象：场效应晶体管
GB/T 29332-2012/IEC 60747-9:2007
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）
检测项目：栅极-发射极阈值电压（VGE(th)）
检测对象：绝缘栅双极型晶体管