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数据更新时间
2026-05-12
按“电路”筛选，展示 31 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、电源电压抑制比KSVR、共模抑制比KCMR、开环电压增益AVD、输出高电平电压VOH、高电平输出电流IOH 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电压比较器
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入失调电压（VIO）、输入失调电流（IIO）、输入偏置电流 IIB、共模抑制比（KCMR）、输出阻抗、差分放大器的输出电压范围（仅直流测试）、运算放大器短路输出电流、开环电压放大倍数
检测对象：运算放大器
半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节.
检测项目：输出高电平电压（VOH）、输出低电平电压（VOL）、输入高电平电流(IIH)、输入低电平电流（IIL）、输出短路电流(IOS)、静态条件下的电源电流(ICC)、输入箝位电压(VIK)、输出高阻态电流(IOZ)
检测对象：半导体集成电路数字集成电路
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
检测项目：反向电流IR、正向电压VF、击穿电压 V(BR)
检测对象：二极管
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率Sv、电流调整率Si
检测对象：电压调整器