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数据更新时间
2026-05-12
按“硅”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：硅单晶电阻率样片
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法
检测项目：薄层电阻
检测对象：薄层电阻（外延层、扩散层和离子注入层样片）