数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 表2 第A2项
低温储存试验 AEC-Q104-Rev-September 14, 2017 表1 第H2项
基于失效机理的汽车应用集成电路的应力测试验证 AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 表2 第A1项
低温工作寿命 JESD22-A108G-2022
恒定温湿度偏压寿命试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 表2 第A2项
非密封固态表面贴装元件湿度/回流焊敏感度分级 AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 表2 第A1项
高加速温湿度应力无偏压试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 表2 第A3项
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
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代表标准包括 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023、AEC-Q104-Rev-September 14, 2017、AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023、JESD22-A108G-2022、AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 Table 2 ,#A2、AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 Table 2 ,#A1 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
