数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 23 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023
温度循环试验 表2 第A4项
检测项目：温度循环试验、高温储存试验、高温工作寿命、恒定温湿度偏压寿命试验、高加速温湿度应力偏压试验、早夭试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023
机械冲击 表2 第G1项
检测项目：机械冲击、高加速温湿度应力无偏压试验、预处理试验、高加速蒸煮试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 Table 2 ,#A2
恒定温湿度偏压寿命试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 表2 第A2项
检测项目：恒定温湿度偏压寿命试验、高加速温湿度应力偏压试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 Table 2 ,#A3
高加速蒸煮试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 表2 第A3项
检测项目：高加速温湿度应力无偏压试验、高加速蒸煮试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 Table 2 ,#A1
非密封固态表面贴装元件湿度/回流焊敏感度分级 AEC-Q100-REV-JAugust 11.2023 表2 第A1项
检测项目：预处理试验、湿度/回流焊敏感度分级
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 Table 2,#A5
功率温度循环试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 表2第A5项
检测项目：功率温度循环试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-REV-JAugust 112023
早夭试验 AEC-Q100-REV-JAugust 11,2023 表2 第B2项
检测项目：早夭试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-002-REV-EAugust 20,2013
人体模型静电放电试验
检测项目：人体模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-011 Rev-DJanuary 29, 2019
带电器件模型（CDM）静电放电试验
检测项目：带电器件模型静电敏感度试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-004-REV-DAugust 7,2012
集成电路闩锁试验
检测项目：闩锁试验
检测对象：电子元器件