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数据更新时间
2026-05-12
按“X射线”筛选,展示 2 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 2 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
GJB 4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法 方法1103塑封半导体集成电路
检测项目:X射线检查
检测对象:电子元器件
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法