数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法101
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 0103
小型熔断器通用规范 GJB5850-2006 4.5.1
有、无失效率等级的表面安装膜固定电阻网络通用规范 GJB7690-2012 4.5.10
表面安装膜固定电阻网络总规范 SJ20794-2000 4.8.10
有可靠性指标的单层片式瓷介电容器总规范 GJB2442-1995 4.7.11
微波元器件性能测试方法 GJB2650-96 方法1001
含宇航级零欧姆片式膜固定电阻器通用规范 GJB6787-2009 4.5.1.1
中国振华集团云科电子有限公司检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB360B-2009、GJB1432B-2009、GJB5850-2006、GJB7690-2012、SJ20794-2000、GJB2442-1995 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元件、小型熔断器、单层片式瓷介电容器、有、无失效率等级的表面安装膜固定电阻网络、片式膜固定电阻器、电子浆料、发光二极管、表面安装膜固定电阻网络 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。