数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB1432B-2009
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006
检测项目：外部目检、制样镜检、内部目检、X射线检查
检测对象：片式膜固定电阻器
检测对象：单层片式瓷介电容器
检测对象：小型熔断器
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测项目：外部目检、制样镜检
检测对象：小型熔断器