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数据更新时间
2026-05-12
按“TID”筛选,展示 5 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
IEC TS 63342: Edition 1.0 2022
晶体硅光伏(PV)组件.光和高温诱导退化(LETID)试验.检测
检测项目:外观检查、电致发光成像、标准试验条件下的性能、通过电流注入(CID)进行B-O LID预处理、光照和高温引起的降解(LETID)
检测对象:光伏(PV)组件