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数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 13 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节4.5（49）
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
检测对象：半导体集成电路TTL电路
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟T<Sub>tr</sub>
检测对象：DC/DC模块