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数据更新时间
2026-05-12
按“引出端”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：带上拉电阻的引出端输入电流I<Sub>RPU</Sub>、带上拉电阻的引出端输入电流I<Sub>RPD</Sub>
检测对象：现场可编程门阵列