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数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第2节第5条（48）
检测项目：输入正向阈值电压V<Sub>IT+</sub>、输入负向阈值电压V<Sub>IT-</sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体器件 第8部分 场效应晶体管
检测项目：栅极阈值电压VGS（th）
检测对象：场效应晶体管
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT）
检测项目：栅极—发射极阈值电压V<Sub>GE</Sub>(th)
检测对象：绝缘栅双极型晶体管