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2026-05-12
按“CO”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
小电流容量旋转开关通用规范 GJB 734B-2021
小电流容量旋转开关通用规范 GJB 734B-2021
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
密封钮子开关总规范 GJB 735-1989
密封钮子开关总规范 GJB 735-1989
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
钮子开关通用规范 GJB 2450A-2012
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
微动开关通用规范 GJB 809B-2013
微动开关通用规范 GJB 809B-2013
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
按钮开关通用规范 GJB1512A-2011
检测项目：接触电阻R<Sub>con</sub>
检测对象：开关
射频同轴连接器通用规范 GJB 681A-2002
射频同轴连接器通用规范 GJB 681A-2002
检测项目：接触电阻R<Sub>con</Sub>
检测对象：射频同轴连接器
射频同轴连接器转接器通用规范 GJB 680A-2009
射频同轴连接器转接器通用规范 GJB 680A-2009
检测项目：接触电阻R<Sub>con</Sub>
检测对象：射频同轴连接器
同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范 GJB 976A-2009
同轴、带状线或微带传输线用射频同轴连接器通用规范 GJB 976A-2009
检测项目：接触电阻R<Sub>con</Sub>
检测对象：射频同轴连接器
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第二节
检测项目：静态接口电源电流I<Sub>CCOQ</Sub>
检测对象：现场可编程门阵列
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 SJ/T 11706-2018
检测项目：静态接口电源电流I<Sub>CCOQ</Sub>
检测对象：现场可编程门阵列