检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
传输时间t<Sub>PLH</sub>转换时间t<Sub>TLH</sub>转换时间t<Sub>THL</sub>输出允许时间T<Sub>en</sub>(<Sub>ZL</sub>)输出允许时间T<Sub>en</sub>(<Sub>ZH</sub>)输出禁止时间T<Sub>dis</sub>(<Sub>LZ</sub>)输出禁止时间T<Sub>dis</sub>(<Sub>HZ</sub>)差分输出电压共模输出电压功能测试输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态工作电源电流输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</sub>动态条件下的总电源电流I<Sub>CC</sub>传输时间t<Sub>PHL</sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
输出高电平电压V<sub>OH</sub>输出低电平电压V<sub>OL</sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
输出低电平电压V<sub>OL</sub>输出高电平电压V<sub>OH</sub>电源电流I<sub>DD</sub>输入高电平电流I<sub>IH</sub>输入低电平电流I<sub>IL</sub>输入钳位电压V<Sub>IK</sub>输出高阻态高电平电流I<Sub>OZH</sub>输出高阻态低电平电流I<Sub>OZL</sub>输出短路电流I<Sub>OS</sub>静态电流I<Sub>DDQ</sub>输入正向阈值电压V<Sub>IT+</sub>输入负向阈值电压V<Sub>IT-</sub>滞后电压 △V<Sub>T</sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</sub>输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</sub>输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</sub>输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</sub>输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
功能测试： （静态测试、动态测试）输入钳位电压V<sub>IK</sub>输入高电平电流I<sub>IH</sub>输入低电平电流I<sub>IL</sub>输出高电平电压V<sub>OH</sub>输出低电平电压V<sub>OL</sub>输出短路电流I<sub>OS</sub>输出高阻态时高电平电流I<sub>OZH</sub>输出高阻态时低电平电流I<sub>OZL</sub>电源电流I<sub>CC</sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</sub>输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</sub>输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</sub>输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</sub>输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</sub>
检测对象：半导体器件集成电路存储器
数字集成电路的功能检验方法(全0全1,55AA、互补读写等)输出高电平电压V<sub>OH</sub>输出低电平电压V<sub>OL</sub>输出高阻态电流I<sub>OZ</sub>输入高电平电流I<sub>IH</sub>输入低电平电流I<sub>IL</sub>动态条件下的总电源电流I静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
输入高电平电流I<sub>IH</sub>输入低电平电流I<sub>IL</sub>静态条件下的电源电流
检测对象：现场可编程门阵列
输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态接口电源电流I<Sub>CCOQ</Sub>静态内核电源电流I<Sub>CCINTQ</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>