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数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 22 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输出低电平电流I<sub>OL</sub>、输出高电平电流I<sub>OH</sub>
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇第3节第1条（1）
检测项目：输出低电平电压V<sub>OL</sub>、输出高电平电压V<sub>OH</sub>、电源电流I<sub>DD</sub>、输入高电平电流I<sub>IH</sub>、输入低电平电流I<sub>IL</sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</sub>、输出高阻态高电平电流I<Sub>OZH</sub>、输出高阻态低电平电流I<Sub>OZL</sub> 等 19 项，点击展开全部
检测对象：CMOS数字集成电路