数据更新时间
2026-05-12
按“导体”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750-2A-2015
半导体器件机械试验方法
检测项目：焊接强度、端子强度
检测对象：电子元器件
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分强加速稳态湿热试验(HAST)
检测项目：高速老化寿命试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750E-2006
半导体器件试验方法（间隙操作寿命）
检测项目：热疲劳试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750-1B-2022
半导体器件环境试验方法 1038,1039,
检测项目：高温偏置试验
检测对象：电子元器件
AEC-Q102-REV-2020
基于失效机理的汽车用光电子半导体应力测试鉴定 Appendix
检测项目：破坏性物理试验
检测对象：电子元器件