江西兆驰半导体有限公司检测中心

ESD-TR53-01-22

静电放电敏感物品的保护—ESD控制项目的符合性验证

SJ/T 10694-2022

电子产品制造与应用系统防静电测试方法

ANSI/ESD S20.20-2021

电气和电子零件、组件和设备的保护（不包括电引发爆炸装置）

SJ/T 11446-2013

离子化静电消除器通用规范 条件:附录A

JESD22-A108G-2022

温度,偏置和寿命试验

MIL-STD-750-2A-2015

半导体器件机械试验方法

ANSI/ESD STM3.1-2015

静电放电敏感物品的保护—离子化静电消除器

JESD22-A101D.01-2021

稳态湿热偏置寿命试验

JESD22-A106B.02-2022

冷热冲击试验

JESD22-A102E-2015

无偏置电压高压力蒸煮加速试验

IPC/JEDEC J-STD-020F-2022

非密封性表面贴装元器件湿度/回流敏感等级分类

JESD22-A113I-2020

非气密性表面贴装元器件可靠性试验前的预处理

JESD22-A110E.01-2021

高加速温度湿度应力试验（HAST）

JESD22-A118B.01-2021

加速抗湿性-无偏压（HAST）

半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分强加速稳态湿热试验(HAST)

JESD22-A104F.01-2023

温度循环

JESD22-A105D-2020

功率温度循环

MIL-STD-750E-2006

半导体器件试验方法（间隙操作寿命）

MIL-STD-750-1B-2022

半导体器件环境试验方法 1038,1039,

JESD22-B100B-2003

物理尺寸

JESD22-B116B-2017

引线键合剪切试验方法

JESD22-B107D-2011

标识耐久性

JESD22-A111B-2018

粘接在基板底面的小型表面贴装固态器件耐浸焊能力的评价程序

JESD22-B106E-2016

通孔型产品耐焊接热

JESD22-A119A - 2015

低温存储试验

EIA/IPC/JEDEC J-STD-002E:2017

元器件引线、焊端、焊片、端子和导线的可焊性测试

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023

静电放电敏感度试验-人体模型-元器件级别

JESD22-A114F-2008

人体模型静电放电敏感度测试

JESD22-B101D-2022

外部目检

ANSI/ESD STM12.1-2019

静电放电敏感物品的保护—座椅电阻测量

ANSI/ESD STM4.1-2017

静电放电敏感物品的保护—工作表面电阻测量（包括货架和可移动设备）

ANSI/ESD STM9.1-2022

静电放电敏感物品的保护—防静电鞋电阻特性

ANSI/ESD S1.1-2021

静电放电敏感物品的保护—手腕带 6.1,

ANSI/ESD STM7.1-2020

静电放电敏感物品的保护—地板系统电阻特性

ANSI/ESD STM97.1-2015

静电放电敏感物品的保护—鞋类/地板系统与人结合的电阻测量

ANSI/ESD STM2.1-2018

静电放电敏感物品的保护—防静电服电阻特性

JESD22-A103E.01-2021

高温存储试验

ANSI/ESD S6.1-2019

静电放电敏感物品的保护—接地系统

ANSI/ESD STM11.11-2022

静电放电敏感物品的保护—平面材料表面电阻的测量

ANSI/ESD STM11.12-2021

静电放电敏感物品的保护—平面材料体积电阻的测量

ANSI/ESD S541-2019

静电放电敏感物品的保护—包装材料

ESD ADV11.2-1995

静电放电敏感物品的保护—摩擦电荷累积试验

SJ/T 10694-1996

电子产品制造防静电系统测试方法