数据更新时间
2026-05-12
按“敏感”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021
检测项目：静电放电敏感度试验
检测对象：微电子器件
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-1998
半导体分立器件失效分析方法和程序 GJB3157-1998
检测项目：静电放电敏感度试验
检测对象：半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021
检测项目：静电放电敏感度试验
检测对象：半导体分立器件