数据更新时间
2026-05-12
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半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目:输出低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电压、输出高电平电压、电源电流
检测对象:CMOS数字集成电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.9/
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.9/
检测项目:输入电流
检测对象:CMOS数字集成电路