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数据更新时间
2026-05-12
按“开封”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101、0201、0202、0205、0207、0701、0702、0901、0902、1001、1002、1003、1101、1102、1103、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101、0201、0202、0205、0207、0701、0702、0901、0902、1001、1002、1003、1101、1102、1103、1201、1202、
检测项目：开封
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101、0201、0202、0205、0207、0701、0702、0901、0902、1001、1002、1003、1101、1102、1103、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101、0201、0202、0205、0207、0701、0702、0901、0902、1001、1002、1003、1101、1102、1103、1201、1202、
检测项目：开封
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）