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数据更新时间
2026-05-12
按“碰撞”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
计算机通用规范 第1部分：台式微型计算机 5.8.6 冲击试验、5.8.7碰撞试验
检测项目：冲击试验
检测对象：机电设备及电子产品
计算机通用规范 第2部分：便携式微型计算机 5.8.6 冲击试验、5.8.7碰撞试验
检测项目：冲击试验
检测对象：机电设备及电子产品
计算机通用规范 第3部分：服务器 5.8.6 冲击试验、5.8.7碰撞试验
检测项目：冲击试验
检测对象：机电设备及电子产品
计算机通用规范 第3部分：工业应用微型计算机 5.8.6 冲击试验、5.8.7碰撞试验
检测项目：冲击试验
检测对象：机电设备及电子产品
地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.6 碰撞
地面电子对抗设备通用规范 GJB 2225A-2008 4.7.5.6 碰撞
检测项目：冲击试验
检测对象：机电设备及电子产品
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）