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数据更新时间
2026-05-12
按“F”筛选，展示 27 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60068-2-64
环境试验第 2 部分：试验方法试验 Fh：宽带随机振动和导则 :
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
IEC 60068-2-6
环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦) :
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Ff：振动 时间历程和正弦拍频法
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
半导体器件 集成电路 第二部分：数字集成电路 方法
检测项目：读写功能测试、输出高电平电压 V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 V<Sub>OL</Sub>、工作状态电源电流 I<Sub>CC</Sub>、维持状态电源电流 ICCS
检测对象：MOS 随机存储器 SDRAM 随机存储器 FLASH
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：正向电流传输比h<Sub>FE</Sub>、正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub>
检测对象：双极型晶体管
检测对象：整流二极管
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：基准电压<I>V</I><Sub>REF</Sub>
检测对象：集成电路D/A转换器
混合集成电路DC／DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC／DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：开关频率f<Sub>e</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ篇第2节
检测项目：共发射极正向电流传输比的静态值h<Sub>FE</Sub>
检测对象：双极型晶体管
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：共发射极正向电流传输比的静态值h<Sub>FE</Sub>
检测对象：双极型晶体管
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub>
检测对象：整流二极管
半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub>
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
检测项目：输出电平下降时间<I>t</I><Sub>f</Sub>
检测对象：霍尔元件