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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T14030-1992”筛选,展示 7 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:触发电压<I>V</I><Sub>TR</Sub>、触发电流<I>I</I><Sub>TR</Sub>、复位电压<I>V</I><Sub>R</Sub>、复位电流<I>I</I><Sub>R</Sub>、阀值电流<I>I</I><Sub>T</Sub>、阀值电压<I>V</I><Sub>T</Sub>、控制端电压<I>V</I><Sub>C</Sub>
检测对象:集成电路时基电路