天航长鹰江苏科技有限公司

能力范围

按“GB/T17574-1998”筛选，展示 19 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。

按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。

GB/T 17574-1998

半导体器件集成电路第二部分：数字集成电路方法

19 项检测项目

检测项目：输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>、输入箝位电压<I>V</I><Sub>IK</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub> 等 19 项，点击展开全部

检测对象：通用数字集成电路

输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>输入箝位电压<I>V</I><Sub>IK</Sub>输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub>输出低电平电流<I>I</I><Sub>OL</Sub>输出高阻态时高电平电流<I>I</I><Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流<I>I</I><Sub>OZL</Sub>静态条件下的电源电流输出短路电流<I>I</I><Sub>os</Sub>功能测试

检测对象：MOS 随机存储器 SDRAM 随机存储器 FLASH

读写功能测试输出高电平电压 V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压 V<Sub>OL</Sub>工作状态电源电流 I<Sub>CC</Sub>维持状态电源电流 ICCS