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数据更新时间
2026-05-12
按“H”筛选，展示 27 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60068-2-30
电工电子产品环境试验 试验 Db：交变湿热(12h+12h 循环) :
检测项目：交变湿热试验
检测对象：机电设备及电子产品
电工电子产品环境试验 试验 Db：交变湿热(12h+12h 循环)
检测项目：交变湿热试验
检测对象：机电设备及电子产品
IEC 60068-2-64
环境试验第 2 部分：试验方法试验 Fh：宽带随机振动和导则 :
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验
检测对象：机电设备及电子产品
半导体器件机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热（HAST）
检测对象：机电设备及电子产品
半导体器件 集成电路 第二部分：数字集成电路 方法
检测项目：输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub>、输出高阻态时高电平电流<I>I</I><Sub>OZH</Sub>、读写功能测试、输出高电平电压 V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 V<Sub>OL</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：通用数字集成电路
检测对象：MOS 随机存储器 SDRAM 随机存储器 FLASH
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：数字输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、数字输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>
检测对象：集成电路D/A转换器
检测对象：集成电路A/D转换器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>
检测对象：集成电路电压比较器
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 第Ⅳ篇第2节
检测项目：共发射极正向电流传输比的静态值h<Sub>FE</Sub>
检测对象：双极型晶体管
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管
检测项目：共发射极正向电流传输比的静态值h<Sub>FE</Sub>
检测对象：双极型晶体管
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：正向电流传输比h<Sub>FE</Sub>
检测对象：双极型晶体管
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压<I>V</I><Sub>GS</Sub>(<Sub>th</Sub>)
检测对象：场效应管
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
检测项目：回差<I>B</I><Sub>H</Sub>
检测对象：霍尔元件