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2026-05-12
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《系统与软件工程 系统与软件质量要求和评价(SQuaRE) 第51部分：就绪可用软件产品(RUSP)的质量要求和测试细则》
检测项目：用户文档集要求、产品质量-功能性、产品质量-性能效率、产品质量-兼容性、产品质量-易用性、产品质量-可靠性、产品质量-维护性、产品质量-可移植性
检测对象：软件产品（通用应用软件、行业应用软件）
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
检测项目：吸合电压VPµ、吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、释放时间<I>t</I><Sub>ops</Sub>、粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电磁继电器
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
检测项目：吸合电压VPµ、吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电磁继电器
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
电磁继电器通用规范 GJB 1042A-2002
检测项目：吸合电压VPµ、吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、释放时间<I>t</I><Sub>ops</Sub>
检测对象：电磁继电器
含可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 1461-1992
含可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 1461-1992
检测项目：吸合电压VPµ、吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、释放时间<I>t</I><Sub>ops</Sub>
检测对象：电磁继电器
有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范 GJB 2888A-2011
有失效率等级的功率型电磁继电器通用规范 GJB 2888A-2011
检测项目：吸合电压VPµ、吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、释放时间<I>t</I><Sub>ops</Sub>
检测对象：电磁继电器
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
检测项目：工作点磁感应强度<I>B</I><Sub>OP</Sub>、释放点磁感应强度<I>B</I><Sub>OP</Sub>
检测对象：霍尔元件
塑封通用电磁继电器总规范 GJB 2449-1995
塑封通用电磁继电器总规范 GJB 2449-1995
检测项目：吸合时间<I>t</I><Sub>opx</Sub>、释放时间<I>t</I><Sub>ops</Sub>
检测对象：电磁继电器
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第Ⅱ篇
检测项目：最大输出电压幅度Vopp
检测对象：运算放大器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：纹波抑制比<I>S</I><Sub>RIP</Sub>
检测对象：集成电路电压调整器
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：静态功耗P<Sub>D</Sub>
检测对象：集成电路电压比较器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：功耗P<Sub>W</Sub>
检测对象：集成电路D/A转换器
混合集成电路DC／DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC／DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC
塑封通用电磁继电器总规范 GJB 2449-1995 4.7.5.2.1、
塑封通用电磁继电器总规范 GJB 2449-1995 4.7.5.2.1、
检测项目：吸合电压VPµ
检测对象：电磁继电器
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目：0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件（寿命试验及破坏性物理分析试验）