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数据更新时间
2026-05-12
按“PIND”筛选,展示 9 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 9 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 方法
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目:0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目:0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目:0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目:0701、0702、0901、1003、1101、1102、1201、1202、
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-99
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
有失效率等级的电磁继电器通用规范 GJB 65C-2021
检测项目:粒子碰撞噪声检测(PIND)
检测对象:电子元器件(寿命试验及破坏性物理分析试验)