数据更新时间
2026-05-12
按“失调”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
QJ 3044-1998
半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>、失调误差Eo、失调误差EO
检测对象：A/D（模数转换）
检测对象：D/A（数模转换）
SJ/T 10805-2000
电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压 V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：电压比较器
QJ2491/1993
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压 V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：运算放大器